CW2010—Z軸測量顯微鏡CW2010—Z軸測量顯微鏡以影像法為測量原理, 采用光學(xué)焦點(diǎn)位置檢測方式進(jìn)行非接觸高低差測量。不僅可以對準(zhǔn)目標(biāo)影像, 還能觀察測量點(diǎn)的表面狀態(tài),對高度,深度,高低差等進(jìn)行測量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場，微分干涉，偏光的觀察功能。所以對極細(xì)微的間隙高低差，夾雜物、微米以下的突起、細(xì)微劃痕進(jìn)行觀察。一、特點(diǎn): 以影像法為測量原理, 采用光學(xué)焦點(diǎn)位置檢測方式進(jìn)行非接觸高低差測量。不僅可以對準(zhǔn)目標(biāo)影像, 還能觀察測量點(diǎn)的表面狀態(tài),對高度,深度,高低差等進(jìn)行測量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場，微分干涉，偏光的觀察功能。所以對極細(xì)微的間隙高低差，夾雜物、微米以下的突起、細(xì)微劃痕進(jìn)行觀察。二、?CW2010—Z軸測量顯微用途：適用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片測試、半導(dǎo)體材料、線束加工蝕刻、液晶電池蓋、導(dǎo)線框架等產(chǎn)品的檢查觀察.也適用于經(jīng)過磨拋、化學(xué)處理的工件表面的金相組織結(jié)構(gòu)，幾何形狀進(jìn)行顯微觀測。并且有三維的計(jì)量功能，其解析率達(dá)0.0005mm。因此是精密零件，集成電路，半導(dǎo)體芯片，光伏電池，光學(xué)材料等行業(yè)的必用儀器。三、?CW2010—Z軸測量顯微鏡主要規(guī)格??? 2.1 ?鏡筒：鉸鏈?zhǔn)饺款^部 ??30°傾斜 ??270°旋轉(zhuǎn)??? 2.2 ?高眼點(diǎn)平場目鏡: WF10X/22?? ?2.3 ?超長物距平場物鏡：PLL5X/0.12? WD 26.1， PLL10X/0.25 WD 20.2， PLL20X/0.40? WD 8.80， PLL50X/0.7? WD 3.68。?? ?2.4 ?右傾式內(nèi)定位5孔轉(zhuǎn)換器??? 2.5 ?落射式照明系統(tǒng)： 鹵素?zé)?2V30W， 內(nèi)置孔徑光闌，五孔轉(zhuǎn)盤濾色裝置（黃、綠、藍(lán)、磨砂）推拉式檢偏器和起偏器。??? 2.6 ?調(diào)焦結(jié)構(gòu)：粗微動(dòng)同軸調(diào)焦, 帶鎖緊和限位裝置? 粗動(dòng)升降范圍30mm? 微動(dòng)格值? 0.001mm*100格? 數(shù)顯解析值 0.0005mm。?? ?2.7 ?光源：鹵素?zé)?亮度可調(diào)? 6V30W（BD：12V50W）?? ?2.8 ?普通透射照明：可選? ??2.9 ?Z軸升降范圍：手輪轉(zhuǎn)動(dòng)130mm? 允許工件 130mm????X軸移動(dòng)范圍? 200mm? 解析率：0.001mm? 可解鎖手動(dòng)快進(jìn)????Y 軸移動(dòng)范圍? 100mm ?解析率：0.001mm? 可解鎖手動(dòng)快進(jìn)?? ?測量（3+L/100）mm ?(L: 被測長度)?? ?落射光測量誤差≤0.08%??? 3.0工作臺尺寸: 360mm*250mm ??玻璃板尺寸: 225mm *175mm?? 工作臺承重: 30kg???? ?3.1 儀器外型尺寸：380mm*550mm*830mm???? ?3.2 凈重：100kg? 毛重：120kg?更多顯微鏡登陸https://www.xacewei.com，西安測維光電技術(shù)有限公司（顯微鏡制造商）以上是Z軸測量顯微鏡的詳細(xì)信息，如果您對Z軸測量顯微鏡的價(jià)格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取Z軸測量顯微鏡的新信息。