Phoenix v|tome|x S

美國通用電氣GE工業(yè)

——可同時(shí)裝配2D檢測(cè)和3D工業(yè) ，適用于材料、地質(zhì)勘探、塑料工程、傳感/電氣、測(cè)量工程等領(lǐng)域
 
菲尼克斯v|tome|x s 是一款多功能高分辨率系統(tǒng)，可用于2D X射線檢測(cè)和3D 工業(yè)（微米和納米），也能實(shí)現(xiàn)3D測(cè)量。
為了增加設(shè)備的靈，v|tome|x s能夠同時(shí)裝配180kV/15W的高功率納米焦點(diǎn)X射線管，240kV/320W微米焦點(diǎn)射線管。無論是用高分辨率掃描低射線吸收率工件，還是對(duì)高射線吸收率工件進(jìn)行3D分析，因?yàn)檫@種的組合模式使得該系統(tǒng)在廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中成為一個(gè)、的工具。
 
應(yīng)用
 
3D 工業(yè)
X射線3D 在工業(yè)中的傳統(tǒng)應(yīng)用范圍無非是對(duì)金屬和塑料鑄件進(jìn)行檢測(cè)和三維測(cè)量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術(shù)卻在傳感技術(shù)、電子、材料科學(xué)及其他自然科學(xué)中開辟了的應(yīng)用領(lǐng)域。
 
材料科學(xué)
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測(cè)常規(guī)材料、 復(fù)合材料，陶瓷材料和燒結(jié)，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對(duì)材料中成分的分布、空洞和裂痕實(shí)現(xiàn)三維可視化。
 
地質(zhì)勘探領(lǐng)域
高分辨率（微米或納米）廣泛應(yīng)用于檢測(cè)地質(zhì)樣本。例如探測(cè)新能源。高分辨率系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當(dāng)前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
 

塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術(shù)通過檢測(cè)收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動(dòng)模式，填充物分布和低對(duì)比度缺陷。

傳感與電氣工程
對(duì)于傳感器和電子部件的檢測(cè)而言，高分辨率X射線技術(shù)通常被用于檢測(cè)、評(píng)估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電氣設(shè)備（焊點(diǎn)）。
 
測(cè)量技術(shù)
X射線3D測(cè)量技術(shù)能夠?qū)?fù)雜工件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)非破壞性測(cè)量。相比于傳統(tǒng)的觸點(diǎn)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)，掃描能夠同時(shí)獲取工件表面的點(diǎn)，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測(cè)量方式進(jìn)行非破壞性測(cè)量是不可能實(shí)現(xiàn)的。V|tome|x配備的的3D測(cè)量包提供了實(shí)現(xiàn)、可重復(fù)性、界面友好的三維測(cè)量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測(cè)量，的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。比如可以用來分析整個(gè)部件的尺寸是否合設(shè)計(jì)的尺寸。
產(chǎn)品規(guī)格
管電壓240kV
管功率 320W
細(xì)節(jié)分辨能力 1um
焦點(diǎn)到工件的小距離4.5mm
像素分辨率 <2um(3D),納米配置了<1um（3D）的像素分辨率（依工件而定）

操作臺(tái) 穩(wěn)定而靈活的5軸操作臺(tái)，配備高轉(zhuǎn)臺(tái)
2D X射線成像 支持
3D 功能 支持
的面數(shù)據(jù)提取技術(shù)支持（可選）
CAD比較+三維測(cè)量支持（可選）
射線護(hù) 全封閉射線護(hù)室，合德國RV和美國績效標(biāo)準(zhǔn)21th
CFR1020.4劑量率<1 uSv/h
 

英華檢測(cè)（上海）有限公司位于上海市浦東新區(qū)張江高科，是專門從事檢測(cè)設(shè)備開發(fā)、銷售與服務(wù)的公司，致力于為國內(nèi)各行業(yè)客戶提供各種檢測(cè)設(shè)備及其應(yīng)用解決方案。

我們的宗旨是：努力將世界上的檢測(cè)工業(yè)服務(wù)和設(shè)備介紹給國內(nèi)的客戶，使國內(nèi)的檢測(cè)技術(shù)與世界同步。