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瞬渺科技(香港)有限公司

免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營(yíng)模式：工廠

所在地：上海市

主營(yíng)產(chǎn)品：高光譜儀/高光譜成像儀、激光共聚焦顯微鏡

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最新產(chǎn)品

: 太陽(yáng)光模擬器; 電議

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: 09年新品－飛秒近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡; 電議

: 實(shí)時(shí)視頻激光掃描顯微鏡（光纖式共聚焦掃描顯微鏡）; 電議

: 波前傳感器波前測(cè)試儀; 電議

: 紅外CCD相機(jī); 電議

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Phasics生產(chǎn)及銷售世界分辨率的波前傳感器。Phasics技術(shù)產(chǎn)品--4波橫向剪切干涉，是在哈特曼基礎(chǔ)上的進(jìn)一步測(cè)試優(yōu)化，這種技術(shù)可以直接測(cè)量以無(wú)與倫比的分辨率和高動(dòng)態(tài)可調(diào)范圍，可以測(cè)量任意波前。此項(xiàng)革新性的技術(shù)及產(chǎn)品已經(jīng)被越來(lái)越多的行業(yè)所應(yīng)用，其產(chǎn)品可用于激光光束質(zhì)量分析，光學(xué)產(chǎn)品的EFL,曲率半徑、MTF、PSF等各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)量。如能對(duì)此類產(chǎn)品感興趣，歡迎與我們?nèi)〉寐?lián)系。

波前分析儀+波前測(cè)試儀+波前傳感器剪切干涉儀
波前分析儀+波前測(cè)試儀+波前傳感器剪切干涉儀
PHASICS波前探測(cè)器

Phasics公司利用革新的技術(shù)研發(fā)的SID4波前探測(cè)器，該儀器能夠提供高分辨率的相位圖，可直接測(cè)量高發(fā)散光束，光路調(diào)整方便等特點(diǎn)。

1. 技術(shù)特點(diǎn)

◆高分辨率（高達(dá)300 x400個(gè)采樣點(diǎn))◆消色差◆高動(dòng)態(tài)范圍◆高靈敏度◆操作簡(jiǎn)便◆設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔緊湊◆高性價(jià)比 2.技術(shù)優(yōu)勢(shì)◆高分辨率的相位圖能夠提供高分辨率的相位圖。標(biāo)準(zhǔn)分辨率為160ｘ120個(gè)采樣點(diǎn)，分辨率可達(dá)400ｘ300。高分辨率的探測(cè)器能測(cè)量鏡片像差，并能做到較高的測(cè)量重復(fù)性。 ◆具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力我們的波前探測(cè)技術(shù)具有直接測(cè)量光路系統(tǒng)相差的能力，并且無(wú)需額外的過(guò)渡鏡（參見(jiàn)下圖）。校準(zhǔn)后的光束通過(guò)鏡片后直接測(cè)試。探測(cè)器可以測(cè)量波前傳輸時(shí)球面波的偏差。盡管有極大的光束偏差（如數(shù)值孔徑高達(dá)0.75），仍然可以做到光路系統(tǒng)與探測(cè)器間不使用過(guò)渡鏡就能測(cè)試。 SID4波前探測(cè)器 測(cè)試條件下光路系統(tǒng)