一、簡(jiǎn)介
磁力顯微鏡(MFM)是原子力顯微鏡派生出來(lái)的一系列力顯微鏡之一，是基于原子力顯微鏡的二次成像技術(shù)，即抬起模式，所不同的是磁力顯微鏡使用磁性探針。磁力顯微鏡(MFM)采用磁性探針對(duì)樣品表面掃描檢測(cè)，該工作模式分兩個(gè)階段,階段與普通原子力顯微鏡形貌成像一樣，在探針與樣品間距1nm以內(nèi)成像，采用輕敲模式，得到樣品表面高低起伏的形貌像并記錄下來(lái)；
然后，將探針抬起并一直保持一定的高度(通常為10～200nm)，進(jìn)行第二次掃描，該掃描過(guò)程可以對(duì)一些相對(duì)微弱但作用程較長(zhǎng)的作用力進(jìn)行檢測(cè)，如磁力和靜電力。當(dāng)振動(dòng)的針尖接近磁性樣品時(shí)，針尖與樣品所產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)（或者說(shuō)樣品中的磁疇結(jié)構(gòu)）相互作用而感受到磁力，使得微懸臂的共振頻率或彎曲程度發(fā)生變化，從而改變其振幅和相位。振蕩微懸臂的相位角及對(duì)應(yīng)的微懸臂壓電驅(qū)動(dòng)器信號(hào)，同時(shí)被EEM（extender electronics module）記錄，它們之間的差值變化用來(lái)表征樣品的磁結(jié)構(gòu)。
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