儀器簡介：
ORTEC在高純鍺（HPGe）和Si（Li）探測器的制造歷史上有著四十多年的歷史，這一方面的創(chuàng)造性進展幾乎都由ORTEC完成。多年來，ORTEC的探測器性能不斷提高，種類不斷豐富，為不同領域內有著各自應用背景或樣品特性要求的用戶提供了廣泛與實用的選擇。半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產(chǎn)品，不僅是核結構、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具，而且在核電、環(huán)境、檢驗檢疫、生物醫(yī)學、天體物理與化學、地質、法學、考古學、冶金和材料科學等諸多科學與社會領域得到了越來越廣泛的應用。
ORTEC在高純鍺（HPGe）和Si（Li）探測器的制造歷史上有著四十多年的歷史，這一方面的創(chuàng)造性進展幾乎都由ORTEC完成。多年來，ORTEC的探測器性能不斷提高，種類不斷豐富，為不同領域內有著各自應用背景或樣品特性要求的用戶提供了廣泛與實用的選擇。半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產(chǎn)品，不僅是核結構、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具，而且在核電、環(huán)境、檢驗檢疫、生物醫(yī)學、天體物理與化學、地質、法學、考古學、冶金和材料科學等諸多科學與社會領域得到了越來越廣泛的應用。
