分析方法配置：

基于蒙特卡洛計算模型的基本參數(shù)法

 經(jīng)驗系數(shù)法

理論α系數(shù)法

軟件功能描述：

RoHS指令、無鹵指令等環(huán)保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析

各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質(zhì)分析（S～U元素）

聚合物等有機材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析

分析的自主定制與輸出打印

 分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計

On-Line實時在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能(選配)

多層鍍層厚度測量功能（選配）

技術(shù)指標(biāo)

元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素

測量時間：

        對聚合物材料，典型測量時間為300秒

        對銅基體材料，典型測量時間為600秒

檢出限指標(biāo)（LOD）：

        對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指標(biāo)，以連續(xù)測量7次的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ表征：

    對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

準(zhǔn)確度指標(biāo)，以系統(tǒng)偏差δ進行表征

        對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg