我公司生產(chǎn)的X熒光光譜儀有以下特點(diǎn)：

1． 檢測(cè)結(jié)果穩(wěn)定，主量元素的波動(dòng)不過&plun;0.2％。銅合金樣品檢測(cè)，重復(fù)性和穩(wěn)定性CCD電火花光譜儀（光電直讀光譜儀）。

2． 滿足檢測(cè)各類合金。儀器可檢測(cè)元素達(dá)70多種，其中合金常用元素20多種。

3． 檢測(cè)快速，2～3分鐘能完成檢測(cè)。滿足爐前檢測(cè)需要。

4． 能檢測(cè)各種形狀樣品。塊狀、粉末、條狀、屑狀、顆粒狀均可檢測(cè)。

5． 工作環(huán)境不需要恒溫恒濕，室溫即可滿足。X熒光光譜儀使用環(huán)境要求簡(jiǎn)單。相反，CCD電火花光譜儀（光電直讀光譜儀）對(duì)環(huán)境溫度要求高，溫度濕度變化會(huì)造成檢測(cè)結(jié)果波動(dòng)很大。

6． 無需耗材。不需要?dú)鍤獾群牟?。電火花光譜儀檢測(cè)受氬氣純度影響，一般要求純度99.99％以上的氬氣，成本高是一個(gè)問題，純度達(dá)不到，影響檢測(cè)結(jié)果問題更大。

7． 操作簡(jiǎn)單。會(huì)使用電腦就會(huì)操作，對(duì)人員要求不高，初中文化水平即可。

8． EDX3600B\\EDX3600H\\EDX1800B\\EDX2800X相同配置

用戶使用我司X熒光光譜儀有以下便利：

①．可替代化學(xué)檢驗(yàn)室。節(jié)省企業(yè)在這方面的開支，所省下來的成本購買儀器了。

②．企業(yè)生產(chǎn)不受人員變動(dòng)的影響?；瘜W(xué)分析依賴于有經(jīng)驗(yàn)的人員，有了X熒光光譜儀，這個(gè)難題迎刃而解。

③．投料精準(zhǔn)，控制生產(chǎn)成本。對(duì)于價(jià)格高的金屬，可以做到投料，即滿足產(chǎn)品牌號(hào)標(biāo)準(zhǔn)，又不多加，不浪費(fèi)。

④.購買和維護(hù)成本大大低于電火花光譜儀。購買成本低，售后服務(wù)成本低更是國(guó)產(chǎn)儀器的優(yōu)勢(shì)。

EDX3600B\\EDX3600H\\EDX1800B\\EDX2800X相同配置

• 應(yīng)用領(lǐng)域：

多種金屬、合金、礦石樣品的多元素分析
電子、玩具、塑膠等進(jìn)出口產(chǎn)品的RoSH和鹵素檢測(cè)

性能特點(diǎn)：
元素的分析范圍廣泛，從Mg到U
帶抽真空的測(cè)量系統(tǒng)，滿足了同時(shí)測(cè)量輕重元素的要求
高分辨率探測(cè)器、新型的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)配合多種濾光片了分析
大的自動(dòng)分析軟件，使得測(cè)量更加方便準(zhǔn)確

整機(jī)主要技術(shù)指標(biāo)
（1） 大功率X光管，高壓發(fā)生器0~50KV可調(diào)；
（2） 探測(cè)器靈敏度高，采用美國(guó)“Amptek”公司近年來開發(fā)出的電制冷Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率：160ev(55Fe)；
（3） 穩(wěn)定性：0.1；
（4） 溫度系數(shù)≤0.0004/℃工作環(huán)境溫度-15℃～30℃；
（5） 儀器分析：標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.1%（按連續(xù)12次分析同一樣品所得數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)）；儀器分析誤差：
a、|儀器分析值－真值|≤標(biāo)準(zhǔn)分析誤差，合格率90％；
b、|儀器分析值－化分值|≤兩倍標(biāo)準(zhǔn)分析誤差，合格95％；
（6） 本儀器對(duì)各有色黑色金屬礦石、燒結(jié)礦、球團(tuán)、爐渣、各種非金屬礦、水泥生料、熟料等對(duì)象主要元素含量的重復(fù)測(cè)量均標(biāo)準(zhǔn)要求；
（7） 樣品制樣要求：提供15克左右、粒度150目以上樣品；
（8） 分析速度快，在2-5分鐘內(nèi)即可分析待測(cè)元素的含量；
（9） 儀器主機(jī)規(guī)格：60cm×60cm×60cm量：80kg；
（10） 整機(jī)功耗：200W。