INV-X ALPHA-4000關(guān)于礦藏的勘探、發(fā)現(xiàn)與開采

XRF是在采礦業(yè)進行元素分析的標準技術(shù)。過去，礦工們只能收集樣品送實驗室分析，費用高昂，而且相當耗時。而現(xiàn)在Inv-X攜帶型XRF分析儀已經(jīng)成為采礦現(xiàn)場工具箱中的設(shè)備。Inv-X攜帶型XRF分析儀不縮短了測試耗時，而且削減了分析費用。它可以現(xiàn)場完成從磷到鈾的元素分析。大部分采礦企業(yè)都實行可持續(xù)發(fā)展戰(zhàn)略，希望小化采礦帶來的環(huán)境污染以及對健康的危害。在熔煉過程中，有害的爐渣不會被分析，而且分析結(jié)果還得按照應急計劃和公眾知情權(quán)法案（EPCRA）進行處理。美國職業(yè)及健康部門（OSHA）也要求參考過濾物周圍空氣的元素分析結(jié)果來控制有害灰塵對礦工的危害。

關(guān)于美國Inv-X Systems(伊諾斯)

美國Inv-X Systems公司(伊諾斯)公司于1993年7月成立于美國的波士頓市，是美國紐約證券交易所上市交易，是通過ISO 9001質(zhì)量體系的微型X熒光處理供應商，同時伊諾斯公司還通過了NATO AQAPI標準，該標準為北大西洋公約組織對精密及其件供應商的品質(zhì)要求。

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000適用領(lǐng)域

Inv-X a-4000可對各種礦石進行多元素分析，廣泛應用于各類礦石的檢測和分析，還應用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000性能介紹

伊諾斯Inv-X ALPHA-4000便攜式礦石分析儀是現(xiàn)在的便攜式礦石分析系統(tǒng)，由美國Inv-X Systems公司出品。Inv-X Systems是一家生產(chǎn)和制造通用型和的便攜式X-射線熒光分析儀(XRF)的公司。Alpha系列分析儀為目前市場上提供體積小、分析速度快、功能多、的便攜式多用途掌上型X射線熒光分析儀，該分析儀可適用于任何場所，從而材料質(zhì)量，材料無放射性，輻射比大理石。多種可選擇的濾波器?？杉磿r傳送、讀數(shù)，其主要部件是一根微小的X射線管和高分辯率探測器。

該分析儀重量輕（1.6 kg），操作簡單，一鍵式按鈕、長時間工作無疲勞感，可適用于-10°C至+50°C任何場所。

Inv-X ALPHA-4000分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結(jié)果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。

·進行原地檢測：將伊諾史礦石分析儀直接接觸待測地面、巖石表面、反循環(huán)（RC）樣品、循環(huán)氣流（RAB）樣品或鉆核，用戶即可在短時間內(nèi)采集大量的數(shù)據(jù)，從而能夠地描述礦脈、為礦石分等級以及表征潛在的環(huán)境危險。

·對礦體的評估：無須等待和花費即可現(xiàn)場確定礦石等級?，F(xiàn)場元素鑒定。 

·對銑頭、精礦和礦渣的分析：對進料、精礦、和礦渣進行快速、的分析，以建立開采和富集的過程。 

·礦山圖的繪制以及礦石等級的控制：Alpha4000伊諾史礦石分析儀可實時通過現(xiàn)場檢測多個樣品，來引導鉆井程序、管理挖掘和爆破。     

·礦物勘探：在野外對土壤、沉積物、鉆孔樣品等地球化學進行測定，更高。

· 在鉻分析方面性能的攜帶型XRF分析儀：礦石中鉻的含量為25－45ppm也能檢測到。

· 可對過濾介質(zhì)進行檢測。

· 可對灰塵抹布進行分析。

· 分析袋裝或液體樣品時，可方便地使用測試臺

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000 PDA技術(shù)：

Alpha系列塑料分析儀采用分離式PDA，更換、維修、升級方便，Microsoft Windows CE操作系統(tǒng)，界面友好、靈活、可升級，中文軟件，數(shù)據(jù)即時顯現(xiàn)，彩屏、數(shù)據(jù)線通訊、藍牙無線通訊、SD卡通訊、CF卡通訊、EXCEL格式輸出，TXTL格式輸出、大容量SD卡、大容量CF卡，128M標準內(nèi)存，可升級至1Gb閃存。

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000 XRF資料建模技術(shù)：

·X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦)，從而使其采測范圍、檢測速度、檢測都出色，并具有好的升級。

· 使用了的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法，可以利用“內(nèi)部標準”來進行定量分析，而不需要進行專門的校正。

· 基本參數(shù)分析：采用半定量分析方式，適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。

· 實驗校：利用“校正曲線”進行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。

· 配備了光譜高點識別軟體，可在顯示幕查看光譜。

· 對比光譜，參考內(nèi)置標準完成比較分析。

· 通過更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲的試驗結(jié)果再次進行新的試驗。

· 可以加入新的元素成份，很容易進行校正。因此，Inv-X a-4000分析儀能夠滿足您當前和未來的需求。

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000所配置的標準分析元素：

 標準元素：鈦，釩，鉻，錳，鐵，鈷，鎳，銅，鋅，銣，鍶，鋯，鈮，鉬，銀，錫，銻，鉭，鉿，鎢，鉛，鉍。根據(jù)不同分析儀的不同配置，儀器檢測所側(cè)重的元素也會有所不同。請您聯(lián)系本公司，根據(jù)您對金屬元素分析的具體要求來為您選擇適合您的金屬分析儀器。

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000樣品準備注意事項：

· 使用便攜式X射線熒光分析儀時，樣品準備的優(yōu)劣程度在很大意義上決定了測試結(jié)果的度。

·EPA Method 6200主要是為X射線熒光分析儀進行現(xiàn)場測試而非準備好樣品的測試提供參考標準。

· 當然，樣品準備工作也視乎測試目的而有所區(qū)別。比如說，在做定量的實地篩選時，進行現(xiàn)場測試一般來講就了。這時可以選擇在塑料袋或直接在地上分析樣品。實地測試可以立即提供一系列重要資料，有助于了解現(xiàn)場，從而發(fā)現(xiàn)“熱點”地帶。

· 如果想獲取更多的定量測試結(jié)果，或者是直接與某些實驗室分析(如AA或ICP等)做比較測試，就需要預先在取樣量杯中將樣品培植得干燥而且均質(zhì)。若想進行理想的比較取樣測試，的方法就是在實驗室里分析X熒光分析儀分析過的同一樣品。

· 樣品準備注意事項詳情請參考EPA Method 6200。

· 在實驗室分析時，請務采用分解法。

美國便攜式礦石分析儀INV-X ALPHA-4000基本規(guī)格