XJ4810型/XJ4810A型半導(dǎo)體管特性圖示儀采用示波管顯示半導(dǎo)體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數(shù)。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電掃描電路，可以對被測半導(dǎo)體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應(yīng)管進行配對或?qū)軠y試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。

XJ4810

XJ-4810型半導(dǎo)體特性圖示儀，是一種用示波管顯示半導(dǎo)體器件的各種特性曲線，并可測量其靜態(tài)參數(shù)的測試儀器。

1.1 本儀器主要由以下幾個部分組成：

1.1.1 Y軸放大器及X軸放大器。

1.1.2 階梯信號發(fā)生器

1.1.3 集電掃描發(fā)生器

1.1.4 主電源及高壓電源部分

1.2 本儀器是繼JT-1后的開發(fā)產(chǎn)品，它除了繼承JT-1的優(yōu)點外，作了較大改進與提 高，它與其他半導(dǎo)體管特性圖示儀相比，具有以下特點：

1.2.1 本儀器采用全晶體管化電路、尺寸小、重量輕。

1.2.2 增設(shè)集電雙向掃描電路及裝置，能同時觀察二管的正反向輸出特性曲線、簡化測試手續(xù)。

1.2.3 配有雙簇曲線顯示電路，對于中小功率晶體管各種參數(shù)的配對，尤為方便。

1.2.4 本儀器專為工作于小電流b晶體管測試作了，小階梯電流可達0.2μA/級

1.2.5 本儀器還專為測試二管的反向漏電流采取了適當(dāng)措施，使測試的IR達20nA/div。

1.2.6 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27100場效應(yīng)管配對測試臺可對國內(nèi)外各種場效應(yīng)對管和單管進行比較測試。

1.2.7 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27101數(shù)字集成電路電壓傳輸特性測試臺，可測試CMOS，TTL數(shù)字集成電路的電壓傳輸特性。

主要技術(shù)指標

2.1 Y軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)

集電電流范圍（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15檔，誤差不過&plun;3%。

二管反向漏電流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5檔。

2μA/div-5μA/div 誤差不過&plun;3%。

0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤差分別不過&plun;20%、&plun;10、&plun;5%

基電流或基源電壓 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

外接輸入 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

偏轉(zhuǎn)倍率 ×0.1 誤差不過&plun;（10%+10nA）。

2.2 X軸偏轉(zhuǎn)因數(shù)

集電電壓范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔 誤差不過&plun;3%。

基電壓范圍 0.05V/div—1V/div 分5檔 誤差不過&plun;3%。

基電流或基源電壓 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

外接輸入 0.05V/div 誤差不過&plun;3%。

2.3階梯信號

階梯電流范圍： 0.2μA/級-50mA/級 分17檔

1μA/級-50mA/級 誤差不過&plun;5%。

0.2μA/級、0.5μA/級 誤差不過&plun;7%。

階梯電壓范圍： 0.05V/級-1V/級 分5檔 誤差不過&plun;5%。

串聯(lián)電阻： 0、10KΩ、1MΩ 分3檔 誤差不過&plun;5%

每簇級數(shù)； 1—10連續(xù)可調(diào)

每秒級數(shù)： 200

性： 正、負 分2檔

2.4 集電掃描信號

峰值電壓與峰值電流容量：各檔級電壓連續(xù)可調(diào)，其輸出不低于下表要求（AC例外）

檔級 198V 220V 242V
0—10V 檔
0—9V 5A
0—10V 5A
0—11V 5A

0—50V 檔
0—45V 1A
0—50V 1A
0—55V 1A

0—100V 檔
0—90V 0.5A
0—100V 0.5A
0—110V 0.5A

0—500V 檔
0—450V 0.1A
0—500V 0.1A
0—550V 0.1A

功耗限制電阻0—0.5MΩ分11檔，誤差不過&plun;10%