- 產(chǎn)品品牌：
- DAGE
- 產(chǎn)品型號：
- XD7600NT-CT
英國DAGE公司 X光測試儀設計滿足PCB和半導體工業(yè)的增長需求，用戶可以輕松獲取高質量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。由于采用開管（Open Tube）技術，在放大倍數(shù)方面遠遠超過了采用閉管（Closed Tube）技術的X光檢測儀達到亞微米級，能滿足客戶更高的需求。
觀察右下方的照片，你可以對該儀器在PCB和半導體行業(yè)的應用有一個大概的了解。在對物體需要進行幾百甚至幾千倍的放大觀察時， 你一定需要該機器的協(xié)助！在制造業(yè)向生產(chǎn)更精巧，更密集的方向發(fā)展時，該儀器就顯得必不可少，進一步的具體應用，請與我們聯(lián)絡！
| 規(guī)格 | XiDat XD7300 | XiDat XD7500 | XiDat XD7500VR | XiDat XD7600NT |
| 尺寸(長x寬x高) | 1450MM x 1700MM x 1970MM | 1450MM x 1700MM x 1970MM | 1450MM x 1700MM x 1970MM | 1450MM x 1700MM x 1970MM |
| 重量 | 1700 KG | 1900 KG | 1900 KG | 1900 KG |
| 小聚集光點 | 1micron | 1micron | 0.95micron | 0.25micron |
| Ｘ光發(fā)射管 | 開放管 | 開放管 | 開放管 | 新一代技術發(fā)射管 |
| X 射線管電壓范圍 | 30-120 KV | 30-160 KV | 30-160 KV | 30-160 KV |
| 檢測面積 | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM | 458MM x 407MM |
| 板尺寸 | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM | 508MM x 444MM |
| 樣本重量 | 5 KG | 5 KG | 5 KG | 5 KG |
| 電源 | 單相 200-230V/16A | 單相 200-230V/16A | 單相 200-230V/16A | 單相 200-230V/16A |
| 斜角視圖 | perpen Dicularview | 0-70°(360°全方位檢測) | 0-70°(360°全方位檢測) | 0-70°(360°全方位檢測) |
| 系統(tǒng)（幾何）放大倍率 | 700x | 1065x | 1200x | 1600x |
| 輻射安全標準 | 1uSv/Hr(符合歐美標準） | 1uSv/Hr(符合歐美標準） | 1uSv/Hr(符合歐美標準） | 1uSv/Hr(符合歐美標準） |
主要特點：
DAGE7500 VR X光無損檢測系統(tǒng) 主要特征：
• 小分辨率：950納米(0.95 微米)；
• 影像接收器左右偏轉角度各70度（共140度），旋轉360度；
• 圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；
• 檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
• 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
• 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至5650X；
• 顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
• 安全性: 在機器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
DAGE7600 NT X 光無損檢測系統(tǒng)
• 小分辨率: 250納米(0.25微米)；
• 影像接收器左右偏轉角度各70度（共140度），旋轉360度；
• 檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm )；
• 樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ；
• 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至 6500 X；
• 圖像采集: 1.3 M萬數(shù)字CCD；
• 顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS)；
• 安全性: 在機器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。
DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸樣品X光無損檢測系統(tǒng)
Dage XD7800VR或NT是專門用于大尺寸樣品的X光無損檢測的系統(tǒng)。
主要特征：
• 小分辨率: 950 納米 (0 .95 微米 )；
• 影像接收器左右偏轉角度各70 度（共 140 度），旋轉 360 度；
• 檢測區(qū)域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
• 樣品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
• 樣品重量: 10KG ；
• 系統(tǒng)放大倍數(shù): 至 5650 X ；
• 圖像采集: 1.3 M 萬數(shù)字 CCD ；
• 顯示器: 20" (DVI interface) 數(shù)字彩色平板 LCD
X光檢查在PCB及半導體行業(yè)中被認為是關鍵的測試步驟。在當今的封裝設計中發(fā)現(xiàn)缺陷是非常重要的，因此，X光系統(tǒng)必須在不同的觀察角度能夠提供高分辨率、高放大倍率和高對比度的圖像。
在評定一臺X-Ray時，檢測速度的快慢和用戶友界面是否友好都是必不可少的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光機安裝的軟件版本為具有圖像引導功能的DAGE11。該軟件使用方便，具有進行亞微米級的觀察、自動檢測、動態(tài)的波動分離、圖像抓拍、友好的用戶界面等優(yōu)勢。
該設備是標準的配置，能夠提供實時的高質量數(shù)字式的X光圖像，圖象的分辨率和灰階都有很大程度的增強，可達70度的傾角觀察。
