西安雷凱光電專注于對光束質(zhì)量的檢測研究，針對于不同波長，采用高精微透鏡和不同的CCD傳感器，開發(fā)出不同型號的哈特曼波前分析儀。

哈特曼波前測量技術(shù)是由科學(xué)家哈特曼于1900年，次提出的，R.K.Shak對經(jīng)典哈特曼光闌做了改進(jìn)，根據(jù)其原理設(shè)計(jì)的波前傳感器被稱為，Shack-Hartmann波前傳感器。

針對于不同的應(yīng)用特征，我們開發(fā)出一款適用性比較廣的哈特曼波前分析儀，與國際上同類產(chǎn)品相比，可同等數(shù)量級。我們可以針對不同的波長，在可見光和近紅外波段，可以為您量身打造您合適用的波前分析儀。

該款波前分析儀具有小巧靈活，能夠提供目前波前分析領(lǐng)域的分辨率和良好的動態(tài)范圍。我們自行研發(fā)的配套軟件可2D，3D顯示，能的從波前相機(jī)采集數(shù)據(jù)，進(jìn)行測量，分析。

特點(diǎn)：

微透鏡陣列：50×50；

CCD靶面：14.6×14.6（mm）

測量校準(zhǔn)波長：在300～1064（nm）范圍內(nèi)用戶可選；

測量:典型波長632.8nm,PV為1/10波長； RMS為1/100波長

工作方式：軟件觸發(fā)、內(nèi)同步或外同步

配套計(jì)算分析軟件使用

哈特曼波前傳感器計(jì)算分析軟件可實(shí)時(shí)與事后對采集的圖像進(jìn)行計(jì)算分析。根據(jù)測試光束的形狀，用戶選取計(jì)算模型。方形光斑選取勒讓德（lengender）模型，圓形光斑選取澤尼克（zernike）模型。軟件將計(jì)算得到測試光束的波前分布，PV，RMS和像差系數(shù)，并實(shí)時(shí)三維顯示。用戶可以根據(jù)自己的需要選擇扣除初級像差系數(shù)（傾斜、離焦、像散、慧差和球差），并顯示扣除像差后的波前分布，PV，RMS和像差系數(shù)。用戶還可以選擇附加計(jì)算分析模塊，得到斯特列爾比（SR），點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF）和光學(xué)調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）。

特點(diǎn)

♦高空間分辨率，可測量的像素點(diǎn)數(shù)量受限于CCD分辨率

♦次與次畸變的波前圖像

♦實(shí)時(shí)測量+位相和強(qiáng)度同時(shí)測量

♦光束質(zhì)量因子M2性測量，無需額外附件，無需移動部件

♦動態(tài)范圍寬，可達(dá)1500λ

♦適用波長范圍寬，涵蓋紫外、可見光、近紅外、中遠(yuǎn)紅外等波段

♦結(jié)構(gòu)緊湊、使用輕便、

 應(yīng)用群體： 針對高精的科研單位。