EDX8000 x熒光光譜儀
產(chǎn)品名稱：x熒光光譜儀
產(chǎn)品型號：EDX8000
簡單介紹：用于RoHS檢測和鍍層檢測
EDX8000 x熒光光譜儀的詳細(xì)說明
x熒光光譜儀EDX8000（XRF EDX8000）x熒光光譜儀EDX8000技術(shù)參數(shù)
分析：0.05％
分析范圍：1ppm-99.9％
測量元素：從硫至鈾等75種元素
測量對象：粉末、固體、液體分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度可分析10層以上的鍍層測試鍍層薄至0.005μm
步進(jìn)小距離：0.01mm
測量時間：60-300s
工作溫度：13-30℃
相對濕度：≤70％
重量：30kg 工作電壓：AC110V／220V
配置：單樣品腔計算機、噴墨打印機，硅針半導(dǎo)體探測器，放大電路，高低壓電源X光管。
x熒光光譜儀EDX8000特點：定位測量系統(tǒng)，用于RoHS檢測和鍍層檢測雙激光定位系統(tǒng)，50至100倍物體放大逐點測試被測對象，并給出完整的含量和鍍層的平面分析圖譜對各個檢測點的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行綜合分析，并將結(jié)果顯示出來。
產(chǎn)品名稱：x熒光光譜儀
產(chǎn)品型號：EDX8000
簡單介紹：用于RoHS檢測和鍍層檢測
EDX8000 x熒光光譜儀的詳細(xì)說明
x熒光光譜儀EDX8000（XRF EDX8000）x熒光光譜儀EDX8000技術(shù)參數(shù)
分析：0.05％
分析范圍：1ppm-99.9％
測量元素：從硫至鈾等75種元素
測量對象：粉末、固體、液體分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度可分析10層以上的鍍層測試鍍層薄至0.005μm
步進(jìn)小距離：0.01mm
測量時間：60-300s
工作溫度：13-30℃
相對濕度：≤70％
重量：30kg 工作電壓：AC110V／220V
配置：單樣品腔計算機、噴墨打印機，硅針半導(dǎo)體探測器，放大電路，高低壓電源X光管。
x熒光光譜儀EDX8000特點：定位測量系統(tǒng)，用于RoHS檢測和鍍層檢測雙激光定位系統(tǒng)，50至100倍物體放大逐點測試被測對象，并給出完整的含量和鍍層的平面分析圖譜對各個檢測點的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行綜合分析，并將結(jié)果顯示出來。
