主要特性與技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic？for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?
描述
Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步了測試吞吐率?！?
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic？for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?
描述
Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步了測試吞吐率?！?
