應(yīng)用領(lǐng)域
　　RoHS指令篩選檢測
　　無鹵指令篩選檢測
　　玩具指令篩選檢測
　　金屬鍍層測厚
　　合金成分分析

　　技術(shù)特點
　　配置新技術(shù)“樣品免拆分”檢測模式：采用新技術(shù)的光路結(jié)構(gòu)，小照射光斑直徑可0.5mm，輔以的光斑定位系統(tǒng)，從而可以實現(xiàn)對復(fù)雜樣品進(jìn)行免拆分直接測量的要求
　　配置合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混測功能：方形4mmX4mm光斑設(shè)計，配合0.5mm光斑配合使用，能夠?qū)﹄娐钒宓葟?fù)雜樣品實現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測量功能；從而顯著節(jié)省測量時間，大幅度檢測效率
　　分析軟件操作系統(tǒng)分級管理：儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡單直觀，避免儀器重要參數(shù)的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數(shù)設(shè)置權(quán)限開放給用戶
　　采用經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)：采用了經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)，在保持儀器外形美觀操作方便的同時，徹底散射X射線的泄露
　　可選配技術(shù)“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚功能：納優(yōu)科技的“影響權(quán)系數(shù)法”多層鍍層測厚技術(shù)，顯著鍍層厚度測量的準(zhǔn)確度；可測量鍍層數(shù)量為9層；徹底解決了常規(guī)XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術(shù)難題
　　外觀設(shè)計實用美觀：合人體工程學(xué)的儀器外形設(shè)計，操作人員測量過程方便舒適
　　分析方法及系統(tǒng)軟件
　　分析方法配置：
　　基于蒙特卡洛計算模型的基本參數(shù)法
　　經(jīng)驗系數(shù)法
　　理論α系數(shù)法

　　軟件功能描述：
　　RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
　　各種金屬材料、無機(jī)非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質(zhì)分析（S～U元素）
　　聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
　　分析的自主定制與輸出打印
　　分析結(jié)果的保存、查詢及統(tǒng)計
　　On-Line實時在線技術(shù)支持與技術(shù)服務(wù)功能
　　多層鍍層厚度測量功能（選配）

　　主要配置
　　美國Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器
　　側(cè)窗鉬（Mo）靶管
　　標(biāo)配16組復(fù)合濾光片
　　配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器
　　具備合中國標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能
　　內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線
　　配置On-line實時在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺
　　具備開放工作曲線技術(shù)平臺
　　分析軟件操作系統(tǒng)分級管理。

　　產(chǎn)品參數(shù)
　　名稱：X熒光光譜儀
　　型號：NDA200
　　輸入電壓：220±5V/50Hz
　　消耗功率：≤500W
　　環(huán)境溫度：15-30℃
　　環(huán)境濕度：≤80%（不結(jié)露）
　　主機(jī)外形（mm）：長＊寬＊高＝900*500*440
　　樣品倉（mm）：長＊寬＊高＝430*380*120
　　主機(jī)重量：約60公斤
　　技術(shù)指標(biāo)
　　元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
　　測量時間：
　　對聚合物材料，典型測量時間為200秒
　　對銅基體材料，典型測量時間為400秒
　　檢出限指標(biāo)（LOD）：
　　對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
　　對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg。