─美國博曼(Bowman)配有功率X射線光管和高靈敏度探測器，能夠滿足復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。

─電制冷固態(tài)探測器的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。探測器靈敏窗口大幅了計數(shù)率，大多數(shù)的分析能在數(shù)秒或數(shù)分鐘內(nèi)完成。靈活組合運用五個初級濾波器，使X光管激發(fā)效率，得到優(yōu)的應用效果。

─儀器測量直徑小可150微米，可供選擇的準直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。設計的鋁鈦板在檢測輕制樣品時能大幅降低背景噪音，從而更低的檢測下限。對電子產(chǎn)品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測 。

─儀器在設定的檢測程序中可通過掃瞄功能性快速分析大面積的指定區(qū)域。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。掃瞄分析及元素分布成像功能能夠快速識別復雜組件中的含鉛的部件或連接件。該款儀器內(nèi)置數(shù)碼影像裝置，能夠顯示樣品擺放位置及測試點位置。樣品掃瞄映射成像圖中可對各種待測元素設置不同顏色，然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。

─根據(jù)不同應用，您可以選擇不同的分析方法：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結合。如果您知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍，經(jīng)驗系數(shù)法是合金分類和元素含量分析的檢測方法。當無法預知準確的元素組成或標準片不情況時，可選用基本參數(shù)法，通過儀器擁有的完整光譜數(shù)據(jù)庫，對基材和鍍層進行可信的厚度測量和元素定量分析，測試范圍可以ppm至%。

─自由距離測量及型樣品艙數(shù)據(jù)統(tǒng)計大，包括平均值、標準偏差、柱狀圖和管理圖表。數(shù)據(jù)及時導出，可以保存為Excel格式，并快速生成分析。用戶能設置快捷鍵，對樣品進行一鍵校準。用戶界面提供9種操作言言大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)聚焦距離，來實現(xiàn)對樣品不同表面的測量。樣品艙內(nèi)部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設計能徹底輻射污染，針對塑料等輕質(zhì)樣品的檢測過程而設計。大艙門使樣品更易放入。

─自定義程序能通過自定義清晰顯示樣品測試是否合格或不合格，還可設置其他針對特定被測元素的報警程序。生成軟體，可證明用戶在檢測消費品是否含有有害元素的過程中所采取的盡職措施
特點詳細介紹：
　　1.可測量0.01um-300um的鍍層。
　　2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。
　　3.除平板形外，還可測量圓形、棒形（細線）等各種形狀。
　　4.可制作非破壞性膜厚儀的標準板。
　　5.該電鍍膜厚檢測儀可檢查非破壞式膜厚儀的測量。
　　6.可高測量其他方式不易測量的三層以上的鍍層。
　　7.可對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理，以及和逐級進行共同管理。
　　8.標準板校正值的計算和設定可自動進行，簡單。
　　9.有微處理器來進行計算、儲存、思考。
　　10.本膜厚儀采用全對話是操作，因此，只要依據(jù)測量條件來進行設定就可測量情況，簡單。
　　11.多可設定四層鍍層，而每一層均可進行統(tǒng)計處理。例如：測量條件、平均值、值、小值、上下限值、直方圓均可進行計算并可有列印機印出，制作測量很容易。
　　12.每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動標準的選擇，均可由電鍍膜厚檢測儀的微處理器自動判斷、設定。
　　13.測量數(shù)據(jù)可由通訊網(wǎng)路來傳輸，所以能和主機共同進行數(shù)據(jù)管理。
　　14.由于分解速度差距分得很細，因此可縮短測量時間。
　　15.可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴散（合金）層。
　　16.由于可儲存64個不同的測量情況，所以有相同的測量情況時，就進行設定。每個測條件可儲存9999個數(shù)據(jù)。