供應各種型號規(guī)格的平面平晶，有現(xiàn)貨，可以定做，歡迎來電訂購。
擁有檢定量塊的研合性和不平度，以及儀器和量具的測量面，工作面的不平度，也用于檢定高的平面件：（單位：個）
φ30（0.03μm）
φ45（0.03μm）
φ60（0.03μm）
φ80（0.05μm）
φ100（0.05μm）
φ150（0.05μm）
φ200，φ250，φ300
用于檢定千分尺，杠桿千分尺，杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具的測量面的不平度和兩相對測量面的不平行度：（單位：組／套）
組一：15.62，15.75，15.87，16.00（0.6μm）
組二：40.62，40.75，40.87，41.00（0.6μm）
組三：65.62，65.75，65.87，66.00（0.8μm）
組四：90.62，90.75，90.87，91.00（1.0μm）。
擁有檢定量塊的研合性和不平度，以及儀器和量具的測量面，工作面的不平度，也用于檢定高的平面件：（單位：個）
φ30（0.03μm）
φ45（0.03μm）
φ60（0.03μm）
φ80（0.05μm）
φ100（0.05μm）
φ150（0.05μm）
φ200，φ250，φ300
用于檢定千分尺，杠桿千分尺，杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具的測量面的不平度和兩相對測量面的不平行度：（單位：組／套）
組一：15.62，15.75，15.87，16.00（0.6μm）
組二：40.62，40.75，40.87，41.00（0.6μm）
組三：65.62，65.75，65.87，66.00（0.8μm）
組四：90.62，90.75，90.87，91.00（1.0μm）。
