CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀
　　
　　應(yīng)用
　　CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用
　　
　　行業(yè)
　　用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測量
　　
　　技術(shù)參數(shù)
　　主要規(guī)格規(guī)格描述
　　X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
　　空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
　　標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、AG等
　　功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）−標(biāo)準(zhǔn) 75W（4-50kV，0-1.5mA）−任選
　　裝備有射線光閘
　　二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
　　準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
　　多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：−圓形，如4、6、8、12、20 mil等−矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
　　測量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時(shí)，小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器）
　　在12.7mm聚焦距離時(shí)，測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器）
　　樣品室 CMI900 CMI950
　　−樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室
　　−樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
　　−XY軸程控移動(dòng)范圍標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm
　　−Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm
　　−XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
　　−樣品觀察系統(tǒng)高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
　　激光自動(dòng)對焦功能
　　可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
　　計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī)惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī)
　　分析應(yīng)用軟件操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái)分析軟件包：SmartLink FP軟件包
　　−測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。
　　−基本分析功能采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
　　樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
　　可檢測元素范圍：Ti22–U92
　　可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正
　　貴金屬檢測，如Au karat評價(jià)
　　材料和合金元素分析
　　材料鑒別和分類檢測
　　液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析。