這款機型在2000年世行中標(biāo)儀器的基礎(chǔ)上做了大量的改進工作。功能更強，使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌檢測功能，隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量功能，隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量功能和針尖修飾功能。

　　用戶還能根據(jù)對教學(xué)/科研不同的要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、。

　　同我們MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應(yīng)的功能模塊，將功能擴展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。

技術(shù)指標(biāo) ：

　　掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描；隧道電流-針尖偏壓（I-V）曲線測量；隧道電流-間隙（I-Z）曲線測量；針尖修飾（脈沖）
　　樣品尺寸：≤Φ10mm
　　樣品厚度：≤5mm
　　掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm
　　分辨率：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm
　　XYZ控制：雙12-bit D/A（相當(dāng)于20位）
　　數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當(dāng)于20位）
　　掃描速率：20000 P/S
　　掃描角度：0~360°
　　圖像采樣點：256×256 / 512×512
　　馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程<10mm，<0.1μm
　　計算機接口：標(biāo)準(zhǔn)并行口
　　配套大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)

可選配件及功能模塊：
　　3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器
　　高分辨CCD觀測系統(tǒng)
　　高樣品X-Y移動平臺
　　MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊
　　MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊
　　MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊