試驗(yàn)箱用途
　　用于電子電器組件、自動(dòng)化部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，需要它的理想測(cè)試工具。
　　
　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
　　滿足的試驗(yàn)方法
　　1、GB2423.1−89試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法
　　2、GB2423.2−89試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法
　　3、GB2423.22−89試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法
　　4、G150.3-86高溫試驗(yàn)
　　5、G150.4−86低溫試驗(yàn)方法
　　6、G150.5−86溫度沖擊試驗(yàn)
　　
　　產(chǎn)品執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
　　1、GB10589−89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　2、GB11158−89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　3、GB10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　
　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)
　　標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型：50升／80升／108升／150升／252升／300升
　　
　　溫度范圍：高溫箱＋60℃～200℃
　　低溫箱−70～−10℃
　　溫度波動(dòng)度：&plun;0.5℃
　　溫度誤差：≤&plun;2℃
　　升溫速率：30℃～＋150℃≤30min
　　降溫速率：＋30℃～−70℃≤95min
　　以上指標(biāo)均在常壓、空載條件情況下測(cè)試。
　　樣品轉(zhuǎn)換時(shí)間：≯15s
　　溫度恢復(fù)時(shí)間。
　　
　　1、＋150℃～−40／℃溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間，≤5min
　　試驗(yàn)狀態(tài)：預(yù)冷溫度：−55℃
　　2、−40℃～＋150℃溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間，≤5min
　　試驗(yàn)狀態(tài)：預(yù)熱溫度：180℃
　　溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間以傳感器測(cè)試位置為準(zhǔn)
　　1.9、電源：380V、50Hz；三相五線制。