以下是JET-300的產(chǎn)品特性:
硬件規(guī)格:REED RELAY的掃描板
JET-300的掃描板采用了可耐用二億次的REED RELAY,徹底解決了I掃描板容易損壞的問題,由于REED RELAY的應(yīng)用,使JET-300在性能上大有。諸如:Zener diode測試電壓可達(dá)50v,測試點皆可使用;小電容和小電感量測較準(zhǔn)確和穩(wěn)定,較不受溫度的影響;電容性的可偵測率較用CMOS RELAY時大為;可耐高壓又有殘存電壓偵測功能,掃描板受到充分的保護(hù);配置功能測試的可行性較高。
Agilent TtJet Technology
美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路完整偵測的問題,成功的研發(fā)出Agilent TtJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的授權(quán)后,已于JET-300 I 系統(tǒng)上配備了此技術(shù),大幅了數(shù)字電路板的可偵測率。計算機(jī)主機(jī)板、適配卡或傳真機(jī)、調(diào)制解調(diào)器的機(jī)板皆可得到滿意的測試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點如下:Agilent TtJet Technology的功能是利用量測一個銅箔板與IC腳框(Frame)之間的電容量來偵測接腳的斷路與否。此技術(shù)無需撰寫任何程序,即可做正確而的測試;Agilent TtJet Technology可測試各種不同包裝的IC,如Insertion te,PLCC te,QFP te,TAB te,PGA te(無接地者),BGA te(OMPAC)等都可測試;Agilent TtJet Technology也可用來偵測各種插座的接腳斷路,不論是Insertion te或是SMD te皆可偵測。
寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測法:
對于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C.可用相位測量法,分別量出其件值,由于信號源頻率寬廣(100Hz到1MHz),因此可以偵測的范圍一般的I,像下圖線路中的件都可以準(zhǔn)確量測。
三端點、四端點量測
JET-300可對三端點的件如TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,F(xiàn)ET,SCR等?;蛩亩它c件如PHOTO COUPLER,做正確的測試,如有反插或件損壞,可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。
電解電容性測試
以三端點法偵測鋁質(zhì)電解電容性反插,可測率100%;以測漏電流方式偵測電解電容性反插,可測率高。
軟件系統(tǒng)
JET-300擁有一般I的軟體功能,無論是在測試前的程序制作支持軟體,或是測試后的不良信息和資料分析,都有高水平的表現(xiàn)。在微軟中文窗口環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程序,操作容易,大。
差件(焊點)
系統(tǒng)可打印出不良數(shù)多的件(名)和不良次數(shù)多的焊點(點)供廠商做品質(zhì)控制或制程的參考。
測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計的日報表和月報表
圖表上半的長條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT,件不良率及整個測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明了地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。
網(wǎng)絡(luò)實時監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺I連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng),則每一臺I的測試統(tǒng)計資料都可以在網(wǎng)絡(luò)上的任何一臺計算機(jī)上顯示,管理者可以很方便地查看生產(chǎn)線的狀況。
網(wǎng)絡(luò)錯誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把I和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng),則在檢修站就可以檢視到不良板的錯誤訊息,包括:打印機(jī)的印出訊息和錯誤圖形顯示。
待測板圖形顯示功能
可在待測板不良發(fā)生時,明白顯示不良件或焊點的位置,亦可在件位置查詢時顯示件的位置,此功能可大大縮短不良品檢修的時間和程序調(diào)適的時間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)系統(tǒng),則此圖形亦可在維修站的屏幕上顯示出來。





