X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900／950金屬鍍層厚度的測(cè)量
　　CMI　900／950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種大的材料涂／鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink　FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900／950主機(jī)的自動(dòng)化控制。
　　
　　技術(shù)參數(shù)：
　　CMI　900　X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x，在技術(shù)上一直以來(lái)都于的測(cè)厚行業(yè)
　　A、CMI　900能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定多5層、15種元素。
　　B、度于世界，到0.025mil（相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片）
　　C、數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求；
　　如在分析中數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
　　D、統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
　　E、可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，小可達(dá)0.025x0.051毫米
　　
　　樣品臺(tái)選擇：
　　CMI900系列采用開(kāi)槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用。