Phoenix nanotom S
——適用于適用于材料科學、精密注塑成型、微觀力學、電氣、地質(zhì)/生物學等應(yīng)用領(lǐng)域
菲尼克斯nanotom？是款180kV/15W納米焦點系統(tǒng)，廣泛適用于材料科學、精密注塑成型、微觀力學、電子地質(zhì)學和生物學等應(yīng)用領(lǐng)域。
由于系統(tǒng)配備了180kV/15W性能納米焦點X射線管、精密機械系統(tǒng)和的軟件模塊，使得nanotom？成為廣泛3D 應(yīng)用領(lǐng)域中杰出的檢測解決方案。一經(jīng)掃描，全3D的信息為各種分析提供了可能。例如，非破壞性可視化切片、任意截面的觀察、自動空洞分析。當整個幾何物體掃描后，就能實現(xiàn)對復(fù)雜物體的3D測量甚至能夠在一小時內(nèi)自動生成一份檢測。
應(yīng)用
3D計算機層析技術(shù)（）
X射線3D 在工業(yè)中的傳統(tǒng)應(yīng)用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進行檢測和三維測量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術(shù)卻在傳感技術(shù)、電子、材料科學及其他自然科學中開辟了的應(yīng)用領(lǐng)域。
材料科學
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測常規(guī)材料、復(fù)合材料，陶瓷材料和燒結(jié)，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、孔洞和裂痕實現(xiàn)三維可視化。
傳感和電氣工程
對于傳感器和電子部件的檢測而言，高分辨率X射線技術(shù)通常被用于檢測、評估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測半導體元件和電氣設(shè)備（焊點）。
測量技術(shù)
X射線3D測量技術(shù)能夠?qū)?fù)雜工件的內(nèi)部實現(xiàn)非破壞性測量。相比于傳統(tǒng)的觸點坐標測量技術(shù)，掃描能夠同時獲取工件表面的點，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測量方式進行非破壞性測量是不可能實現(xiàn)的。Nanotom S配備的3D測量包提供了實現(xiàn)、可重復(fù)性、界面友好的三維測量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量，的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡便地與CAD數(shù)據(jù)進行對比。比如可以用來分析整個部件的尺寸是否合設(shè)計的尺寸。
塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術(shù)通過檢測收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動模式，填充物分布和低對比度缺陷。
nano展示的玻璃纖維增強塑料樣品：玻璃纖維的對齊與分布，礦物填充物（紫色）清晰可見。纖維寬度大約10um.
地質(zhì)/生物科學
高分辨率（微米或納米）廣泛應(yīng)用于地質(zhì)樣品的檢測，例如探測新能源。高分辨率系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
產(chǎn)品規(guī)格
管電壓 180kV
管功率 15W
細節(jié)分辨能力 200um
射線源到探測器小距離 0.4mm
像素分辨率 <500nm（依工件尺寸而定）
幾何放大倍率（3D） 1.5倍-100倍
工件尺寸（高度×直徑） 150mm×120mm/5.9″×4.7″
工件重量 2kg/4.4lb
圖像鏈 5M全數(shù)字化圖像鏈
2D X射線成像 不支持
3D 支持
的表面提取技術(shù) 支持（可選）
CAD比較＋三維測量 支持（可選）
系統(tǒng)尺寸 1640×1430×750mm3（64.6″×56.3″×29.5″）
系統(tǒng)重量 1300kg/2866lb
射線護
全封閉射線護室，合德國R？V和美國績效標準
CFR1020.4劑量率<1 uSv/h
——適用于適用于材料科學、精密注塑成型、微觀力學、電氣、地質(zhì)/生物學等應(yīng)用領(lǐng)域
菲尼克斯nanotom？是款180kV/15W納米焦點系統(tǒng)，廣泛適用于材料科學、精密注塑成型、微觀力學、電子地質(zhì)學和生物學等應(yīng)用領(lǐng)域。
由于系統(tǒng)配備了180kV/15W性能納米焦點X射線管、精密機械系統(tǒng)和的軟件模塊，使得nanotom？成為廣泛3D 應(yīng)用領(lǐng)域中杰出的檢測解決方案。一經(jīng)掃描，全3D的信息為各種分析提供了可能。例如，非破壞性可視化切片、任意截面的觀察、自動空洞分析。當整個幾何物體掃描后，就能實現(xiàn)對復(fù)雜物體的3D測量甚至能夠在一小時內(nèi)自動生成一份檢測。
應(yīng)用
3D計算機層析技術(shù)（）
X射線3D 在工業(yè)中的傳統(tǒng)應(yīng)用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進行檢測和三維測量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術(shù)卻在傳感技術(shù)、電子、材料科學及其他自然科學中開辟了的應(yīng)用領(lǐng)域。
材料科學
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測常規(guī)材料、復(fù)合材料，陶瓷材料和燒結(jié)，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、孔洞和裂痕實現(xiàn)三維可視化。
傳感和電氣工程
對于傳感器和電子部件的檢測而言，高分辨率X射線技術(shù)通常被用于檢測、評估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測半導體元件和電氣設(shè)備（焊點）。
測量技術(shù)
X射線3D測量技術(shù)能夠?qū)?fù)雜工件的內(nèi)部實現(xiàn)非破壞性測量。相比于傳統(tǒng)的觸點坐標測量技術(shù)，掃描能夠同時獲取工件表面的點，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測量方式進行非破壞性測量是不可能實現(xiàn)的。Nanotom S配備的3D測量包提供了實現(xiàn)、可重復(fù)性、界面友好的三維測量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量，的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡便地與CAD數(shù)據(jù)進行對比。比如可以用來分析整個部件的尺寸是否合設(shè)計的尺寸。
塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術(shù)通過檢測收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動模式，填充物分布和低對比度缺陷。
nano展示的玻璃纖維增強塑料樣品：玻璃纖維的對齊與分布，礦物填充物（紫色）清晰可見。纖維寬度大約10um.
地質(zhì)/生物科學
高分辨率（微米或納米）廣泛應(yīng)用于地質(zhì)樣品的檢測，例如探測新能源。高分辨率系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
產(chǎn)品規(guī)格
管電壓 180kV
管功率 15W
細節(jié)分辨能力 200um
射線源到探測器小距離 0.4mm
像素分辨率 <500nm（依工件尺寸而定）
幾何放大倍率（3D） 1.5倍-100倍
工件尺寸（高度×直徑） 150mm×120mm/5.9″×4.7″
工件重量 2kg/4.4lb
圖像鏈 5M全數(shù)字化圖像鏈
2D X射線成像 不支持
3D 支持
的表面提取技術(shù) 支持（可選）
CAD比較＋三維測量 支持（可選）
系統(tǒng)尺寸 1640×1430×750mm3（64.6″×56.3″×29.5″）
系統(tǒng)重量 1300kg/2866lb
射線護
全封閉射線護室，合德國R？V和美國績效標準
CFR1020.4劑量率<1 uSv/h
