—用途—
SAIS型沖擊試驗臺可供試驗產品做沖擊試驗，主要提供給小型試件作較高沖擊加速度試驗用?？己嗽嚻烦惺軟_壞的程度。常應用于電子元器件，電子線路板等環(huán)境試驗，本試驗設備合《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)范Ea：沖擊試驗方法》及《IEC68-2-27，試驗Ea：沖擊》和《MIF-STD202F》
規(guī)范對沖擊試驗的要求。
—性能，特點—
SAIS型沖擊試驗臺面尺寸較小，臺面結構經過有限元優(yōu)化分析后精心設計，結構強度大，頻率響應高，通過高加速度沖擊試驗，能0。3ms的加速度持續(xù)時間，沖擊半正弦波形合試驗規(guī)范。
內置二次沖擊裝置，臺體配置減振裝置，沖擊高度數字設定，自 動執(zhí)行。
SAIS型沖擊試驗臺可供試驗產品做沖擊試驗，主要提供給小型試件作較高沖擊加速度試驗用?？己嗽嚻烦惺軟_壞的程度。常應用于電子元器件，電子線路板等環(huán)境試驗，本試驗設備合《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)范Ea：沖擊試驗方法》及《IEC68-2-27，試驗Ea：沖擊》和《MIF-STD202F》
規(guī)范對沖擊試驗的要求。
—性能，特點—
SAIS型沖擊試驗臺面尺寸較小，臺面結構經過有限元優(yōu)化分析后精心設計，結構強度大，頻率響應高，通過高加速度沖擊試驗，能0。3ms的加速度持續(xù)時間，沖擊半正弦波形合試驗規(guī)范。
內置二次沖擊裝置，臺體配置減振裝置，沖擊高度數字設定，自 動執(zhí)行。
