為精密制造技術(shù)質(zhì)量控制而研制的CWJ系列微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)匯聚現(xiàn)代的檢測(cè)技術(shù)，消除了普通射線源因幾何不清晰度影響而給檢測(cè)細(xì)節(jié)帶來(lái)的不便，放大倍率可達(dá)300倍，小探測(cè)能力可達(dá)0.5μm
　　
　　應(yīng)用范圍
　　Application　Range
　　1.電子元器件檢測(cè)（電容、電阻、二管等）
　　Electronic　components　inspection（capacitor，resistance，diode　and　so　on）
　　2.PCB板焊接檢測(cè)
　　PCB　board　welding　inspection
　　3.IC封裝檢測(cè)
　　IC　capsulating　inspection
　　4.電纜芯檢測(cè)Cable　pin　inspection
　　5.電熱管、熔斷器內(nèi)部金屬絲檢測(cè)
　　6.輕質(zhì)合金內(nèi)部細(xì)小缺陷檢測(cè)Galvanothermy　tube，fuse　inner　metal　inspection　inner　failure　inspection　of　light　alloy
　　7.
　　8.筆記本、手機(jī)電池檢測(cè)notebook＆telephone　battery　inspection
　　9.非金屬細(xì)小缺陷檢測(cè)nonmetal　failure　inspection