我公司基于老化技術以及國標《半導體分立器件試驗方法》相關要求設計的LD老化試驗臺可以模擬LD的各種工作環(huán)境，測試LD在不同工作環(huán)境下的各電參數和光參數，并進行分析，從而元器件產品整體的性，使得產品性能更加。整個LD老化試驗箱的基本組成包括：LD卡具、溫度控制、LD驅動和光特性分析等四部分組成。采用抽屜式積木結構將各功能部分與試驗箱組合在一起。
山東理工光電有限公司
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