I測試治具即InCircuitest測試治具的縮寫，就是在線檢測、測試治具。是對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備。它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，I測試治具可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，對每種單板需制作的針床，這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它I測試治具。
　　
　　一、I的通用功能：
　　1.I能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板上件：電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED，普通二體、穩(wěn)壓二體、光藕器、IC等件，是否在我們設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
　　2.I能夠先期找出制程不良所在，如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問題，回饋到制程的。
　　3.I能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測試結(jié)果，包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值，以供維修人員參考。可以降低人員對產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
　　4.能夠?qū)y試不良資訊統(tǒng)計(jì)，生產(chǎn)管理人員加以分析，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，借以電路板制造及品質(zhì)能力。
　　正是由于I以上功能所帶給客戶的大效益，才有今天I得已廣泛運(yùn)用的現(xiàn)實(shí)！
　　
　　二、I功能：
　　1.電解電容性測試技術(shù)：
　　電解電容反向、漏件100%可測
　　并聯(lián)電解電容反向、漏件100%可測
　　電解電容性測試技術(shù)的工作原理：
　　1.1I就是利用第三根針施加一激發(fā)訊號（Trigger Signal）于電解電容，并量測第三點(diǎn)與正或負(fù)端間的反應(yīng)訊號（如圖三）
　　1.2I利用DSP（數(shù)字訊號處理）技術(shù)加以運(yùn)算后，轉(zhuǎn)換成一組向量（Veors）透過DFT（Discrete Fourier Transform，離散式傅立葉變換）及FFT（Fast Fourier Transform，快速傅立葉變換）等運(yùn)算方式，將量得的反應(yīng)訊號由 t（time）domain（示波器訊號）轉(zhuǎn)換成 f（frequency）domain（頻譜分析儀訊號）的向量組。
　　1.3經(jīng)由Learning取得一組標(biāo)準(zhǔn)向量值，而后待測物（DUT---Device Under Test）所量測的值（如圖五）再經(jīng)Pattern Match（特征辨識比對技術(shù)）與原標(biāo)準(zhǔn)值比對，以決定待測物性正確與否。
　　Pattern Match的應(yīng)用如：指紋辨識、辨識、視網(wǎng)膜辨識等均是。