Nanofirst 3600是一款比一體式原子力顯微鏡（AFM），具有性能穩(wěn)定，操作簡便和實用等優(yōu)點，可實現高分辨納米、亞納米測試。適合于高校納米科技教學、科學研究、納米材料及粉體分析、電化學測量、生物制藥和工業(yè)現場測試。作為AFM制造商，海茲思具有十多年的AFM技術經驗和積累，能夠提供及時的技術支持和售后服務。
特點及用途：
>為科研和工業(yè)應用設計，用于各類納米材料測量表征；一體化結構設計，配有的震系統(tǒng)；
>集成接觸模式和動態(tài)力模式原子力顯微鏡、摩擦力顯微鏡功能；
>多通道圖像同步采集顯示，實時觀測形貌圖、摩擦力圖、振幅圖等；
>定點實時測試F-Z曲線、f-RMS曲線、RMS-Z曲線等多種曲線功能；
>設置“掃描頻率上限”功能，可限制快掃描頻率，保護探針
>圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名，當前工作環(huán)境參數同步保存功能；
>配備二維微米移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域；
>高探針-樣品定位系統(tǒng)，直接定位到CCD（選配）任意可視的區(qū)域進行掃描；
>可增配模式：磁力、相位和靜電力。
特點及用途：
>為科研和工業(yè)應用設計，用于各類納米材料測量表征；一體化結構設計，配有的震系統(tǒng)；
>集成接觸模式和動態(tài)力模式原子力顯微鏡、摩擦力顯微鏡功能；
>多通道圖像同步采集顯示，實時觀測形貌圖、摩擦力圖、振幅圖等；
>定點實時測試F-Z曲線、f-RMS曲線、RMS-Z曲線等多種曲線功能；
>設置“掃描頻率上限”功能，可限制快掃描頻率，保護探針
>圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名，當前工作環(huán)境參數同步保存功能；
>配備二維微米移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域；
>高探針-樣品定位系統(tǒng)，直接定位到CCD（選配）任意可視的區(qū)域進行掃描；
>可增配模式：磁力、相位和靜電力。
