BD-200系列金相顯微鏡采用平場(chǎng)消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時(shí)在落射照明設(shè)
計(jì)系統(tǒng)中反射結(jié)構(gòu)，反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好。
■提供穩(wěn)定的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡(jiǎn)便。
■顯微鏡體采用的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)勻稱，實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化。
■工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作，了使用的舒適性。
■廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。
計(jì)系統(tǒng)中反射結(jié)構(gòu)，反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好。
■提供穩(wěn)定的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡(jiǎn)便。
■顯微鏡體采用的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)勻稱，實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化。
■工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作，了使用的舒適性。
■廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。
其他說明
| 光學(xué)系統(tǒng) | 有限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) |
| 觀察筒 |
鉸鏈?zhǔn)诫p目，30°傾斜，360°旋轉(zhuǎn)，瞳距調(diào)節(jié)范圍：54-75mm， 雙邊&plun;5屈光度可調(diào)；鉸鏈?zhǔn)饺?，固定式分光比?br /> 雙目:三目=80%:20% |
| 目鏡 | PL10X高眼點(diǎn)平場(chǎng)目鏡，線視場(chǎng) 18mm |
| 物鏡 | 長(zhǎng)工作距平場(chǎng)消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X |
| 偏光系統(tǒng) | 簡(jiǎn)易偏光 |
| 轉(zhuǎn)換器 | 內(nèi)定位四孔轉(zhuǎn)換器 |
| 調(diào)焦機(jī)構(gòu) |
粗微調(diào)同軸，帶機(jī)械上限位和松緊調(diào)節(jié)裝置, 粗調(diào)行程28mm，微調(diào)0.002mm |
| 載物臺(tái) |
雙層機(jī)械移動(dòng)平臺(tái),附設(shè)180X145mm平板平臺(tái), 移動(dòng)范圍：76mmX50mm |
| 照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明，自適應(yīng)寬電壓90V-24V，6V/30W鹵素?zé)簦?br /> 光強(qiáng)連續(xù)可調(diào),帶可變孔徑光闌與視場(chǎng)光闌,視場(chǎng)光闌中心可調(diào)。 |
| 攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 |
| 攝像裝置 | 0.35X/0.5X/1.0X C型攝像接筒 |
| 其他可選功能 | 6V30W照明系統(tǒng)內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器 |
