便捷式X-射線熒光光譜分析儀在采礦和勘探業(yè)中被廣泛應(yīng)用，包括從陸地勘探和地質(zhì)繪圖至露天采礦品位控制，儲(chǔ)礦品位分析、地下取樣／繪圖，環(huán)境檢測(cè)以及尾礦和精礦分析。X-射線熒光光譜分析儀產(chǎn)品的商業(yè)化生產(chǎn)近才實(shí)現(xiàn)，但該儀器已經(jīng)得到廣泛應(yīng)用，有成千上萬(wàn)套儀器已出售，這些都證明了它們?cè)诟鞣N應(yīng)用上的價(jià)值。

　　然而在初，X-射線熒光光譜分析儀更多被用做輔助儀器，與耗時(shí)更多的商業(yè)實(shí)驗(yàn)室分析一起使用，包括原子吸收，ICP和其它方法，但X-射線熒光光譜分析儀的性和可用性表示它適合使用在許多地方，尤其是礦區(qū)對(duì)速度要求和時(shí)間有限的情況下，關(guān)于X-射線熒光光譜分析儀的改進(jìn)一直被持續(xù)報(bào)道，新的儀器可以分析鎂、硅和鋁等輕物質(zhì)，以用于應(yīng)用。

　　一個(gè)小型銀正X光射線管與固態(tài)檢測(cè)器結(jié)合能得出結(jié)果。

　　阿爾法系列產(chǎn)品使用了基礎(chǔ)參數(shù)算法，它可以自動(dòng)的將會(huì)影響X-射線熒光光譜分析儀結(jié)果的多種元素間問題列入考慮范圍內(nèi)，這樣人們可以依據(jù)一系列校準(zhǔn)因素對(duì)基巖差異做出調(diào)查，多組校準(zhǔn)參數(shù)可以保存至分析儀中，以便輕易調(diào)出。

　　INV—X公司阿爾法系列產(chǎn)品堅(jiān)固耐用、使用經(jīng)濟(jì)、攜帶輕便，并能快速、地檢測(cè)出勘探樣品、礦石、進(jìn)料、精礦、和礦渣中的元素成分。INV—X便攜式分析儀可進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)直接檢測(cè)分析，為您節(jié)省大量時(shí)間（無須往返于礦場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室）。