LCR測試儀3532-50基本±0.08%，42Hz～5MHz的測試頻率，5ms測量，測量14種參數(shù)，能提供與元器件工作條件更為接近的測試條件?？珊苋菀椎販y試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來
LCR測試儀3532-50利用外部I/O接口，事先將登錄的測量條件輸入，進行不同測量條件的樣品選擇/評估。通過改變測量條件，登錄恰當?shù)臏y量條件、比較條件，相對同一樣品也可進行連續(xù)測量。用一臺測量儀，構(gòu)筑于多品種的自動化生產(chǎn)線，實現(xiàn)快5ms的測量。
LCR測試儀HIOKI 3532-50性能特點：
測試｜Z｜，L，C，R
測試源頻率42Hz～5MHz
測量：5ms
搭配寬幅測試頻率的阻測試儀
測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整
可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來
LCR測試儀3532-50利用外部I/O接口，事先將登錄的測量條件輸入，進行不同測量條件的樣品選擇/評估。通過改變測量條件，登錄恰當?shù)臏y量條件、比較條件，相對同一樣品也可進行連續(xù)測量。用一臺測量儀，構(gòu)筑于多品種的自動化生產(chǎn)線，實現(xiàn)快5ms的測量。
LCR測試儀HIOKI 3532-50性能特點：
測試｜Z｜，L，C，R
測試源頻率42Hz～5MHz
測量：5ms
搭配寬幅測試頻率的阻測試儀
測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整
可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作簡便，改變設(shè)置時通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項會順序排列顯示出來
