原理介紹  

光聲光譜學(xué)是光譜技術(shù)與量熱技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物，光聲效應(yīng)是在1880年由A.G.貝爾發(fā)現(xiàn)的。它的機(jī)理是:當(dāng)物質(zhì)受到光照射時(shí),物質(zhì)因吸收光能而受激發(fā)，然后通過非輻射消除激發(fā)的過程使吸收的光能（或部分）轉(zhuǎn)變?yōu)闊?。如果照射的光束?jīng)過周期性的強(qiáng)度調(diào)制，則在物質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生周期性的溫度變化，使這部分物質(zhì)及其鄰近媒質(zhì)熱脹冷縮而產(chǎn)生應(yīng)力（或壓力）的周期性變化，因而產(chǎn)生聲信號(hào)，此種信光聲信號(hào)。光聲信號(hào)的頻率與光調(diào)制頻率相同，其強(qiáng)度和相位則決定于物質(zhì)的光學(xué)、熱學(xué)、彈性和幾何的特性。若入射單色光波長(zhǎng)連續(xù)變化，則可測(cè)到隨波長(zhǎng)而變的連續(xù)光聲信號(hào)圖譜，這就是光聲光譜。 

由于光聲光譜測(cè)量的是樣品吸收光能的大小，因而反射光、散射光等對(duì)測(cè)量干擾很小，故光聲光譜適于測(cè)量高散射樣品、不透光樣品、吸收光強(qiáng)與入射光強(qiáng)比值很小的弱吸收樣品和低濃度樣品等，而且樣品無論是晶體、粉末、膠體等均可測(cè)量，這是普通光譜做不到的。光聲效應(yīng)與調(diào)制頻率有關(guān)，改變調(diào)制頻率可獲得樣品表面不同深度的信息，所以它是提供表面不同深度結(jié)構(gòu)信息的探測(cè)方法。

本儀器基本性能參數(shù)

1.        光譜范圍：300-1200 nm，可適當(dāng)擴(kuò)展。

2.        光譜分辨率：2 nm。

3.        測(cè)量偏差：&plun; 1.5％。

4.        波長(zhǎng)讀數(shù)：＜l nm。

5．信號(hào)調(diào)制頻率：5－200 Hz連續(xù)可調(diào)