Panametrics MG2系列
Panametrics® MG2系列是一些小巧、經(jīng)濟(jì)的聲測(cè)厚儀,其主要用戶為負(fù)責(zé)測(cè)量有內(nèi)部腐蝕的管道、箱罐容器和其它金屬構(gòu)件的剩余厚度的檢測(cè)人員和維護(hù)工程師。這些測(cè)厚儀具有輕便且合人體工程學(xué)的單手操作設(shè)計(jì),為許多需要對(duì)疑為金屬壁變薄的材料所進(jìn)行的快速檢測(cè)應(yīng)用,提供
了性價(jià)比高的測(cè)量解決方案。
Olympus是世界的型、高質(zhì)量聲檢測(cè)儀器的生產(chǎn)商。我們認(rèn)為我們的客戶應(yīng)該享用真正具有質(zhì)量好、高、操作簡(jiǎn)便且價(jià)位適中的測(cè)厚儀。我們生產(chǎn)的3款堅(jiān)固耐用的測(cè)厚儀可滿足客戶的期望:Panametrics®MG2型儀器、Panametrics® MG2-XT
型儀器,以及Panametrics® MG2-DL型儀器。每款儀器都具有許多實(shí)用的測(cè)量功能,可解決在厚度測(cè)量過程中出現(xiàn)的各種各樣的問題。
特色
- 從工件的一側(cè)測(cè)量:聲測(cè)厚儀從材料的一側(cè)發(fā)射聲
波,無需切開材料被腐蝕的部分,即可進(jìn)行數(shù)字化測(cè)量。 - 袖珍輕便:這些手持式測(cè)厚儀小巧輕便,可被放置于工具箱或口袋中。它們是快速測(cè)量材料中難于接觸到的區(qū)域的理想的測(cè)厚儀。
- 直觀的彩色鍵盤:操作簡(jiǎn)易省時(shí),可以直接訪問許多重要的測(cè)量功能。按鍵根據(jù)不同的功能被分組、標(biāo)色,便于用戶對(duì)按鍵的識(shí)別。
- 寬屏背光液晶顯示屏:顯示屏的大數(shù)字字便于閱讀厚度測(cè)量讀數(shù)。此外,如使用場(chǎng)致發(fā)光的背光顯示,屏幕內(nèi)容無論在暗處還是陽(yáng)光下都會(huì)清晰可見。
- MG2-XT型儀器和MG2-DL型儀器都配備有Olympus® THRU-T®(穿透鍍層)功能、B掃描,及帶有波
形調(diào)節(jié)的可選實(shí)時(shí)A掃描。
可在3種儀器中選擇
PANAMETRICS MG2
Panametrics® MG2型測(cè)厚儀具有許多基本的功能,如:小值/值模式,以每秒20個(gè)讀數(shù)快速測(cè)量和回放小厚度值;凍結(jié)模式,可即刻捕捉關(guān)鍵厚度讀數(shù);位補(bǔ)償模式,可發(fā)揮探頭的性能。該價(jià)格合理的手持式測(cè)厚儀還具有其它多種功能,可用于在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行的快速測(cè)量。
PANAMETRICS MG2-XT
Panametrics® MG2-XT型測(cè)厚儀具有與Panametrics MG2型測(cè)厚儀相同的功能。該測(cè)厚儀由于增加了B掃描、增益調(diào)整、自動(dòng)靈敏度優(yōu)化、回波到回波、Olympus® THRU-T®(穿透鍍層)、差值模式、高/低報(bào)警、可選動(dòng)態(tài)A掃描等測(cè)量功能,可在條件惡劣的應(yīng)用中發(fā)揮更高的效能。這款測(cè)厚儀是測(cè)量表面涂有鍍層或漆層的材料厚度的理想的儀器。
PANAMETRICS MG2-DL
Panametrics® MG2-DL是MG2系列測(cè)厚儀中的一款儀器。該儀器不具有Panametrics MG2堠吀謀儀器的功能,還裝有一個(gè)基于文件的通用的字母數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)記錄器,可存儲(chǔ)增量、順序、兩維及Boiler格式的文件。使用可選的GageView™ Pro接口程序,可以在計(jì)算機(jī)和測(cè)厚儀之間雙向傳輸數(shù)據(jù)。
MG2系列腐蝕測(cè)厚儀可選探頭(部分)
| 探頭型號(hào) | 頻率 | 探頭尺寸 | 溫度范圍 | 測(cè)量范圍(鋼) |
| D790 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-500℃ | 1-500mm |
| D791 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-500℃ | 1-500mm |
| D791-RM | 5.0MHz | 11.0mm | -20-400℃ | 1-500mm |
| D792 | 10.0MHz | 7.2mm | 0-50℃ | 0.5-25mm |
| D794 | 5.0MHz | 7.2mm | 0-50℃ | 0.75-50mm |
| D797 | 2.0MHz | 22.9mm | -20-400℃ | 2.5-500mm |
| D7226 | 7.5MHz | 8.9mm | -20-150℃ | 0.71-100mm |
| D798 | 7.5MHz | 7.2mm | -20-150℃ | 0.71-100mm |
| D799 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-150℃ | 1-500mm |
| MTD705 | 5.0MHz | 5.1mm | 0-50℃ | 0.75-19mm |
Panametrics MG2系列技術(shù)規(guī)格
測(cè)量
測(cè)量模式:使用雙晶探頭的脈沖回波法
厚度測(cè)量范圍:0.50 mm~635.00 mm,厚度測(cè)量范圍取決于材料、探頭、表面條件和溫度。
材料聲速校準(zhǔn)范圍:0.508 mm/μs~18.699 mm/μs
顯示模式
• 厚度的數(shù)字式讀出形式
• 顯示橫截面圖像的B掃描
• 實(shí)時(shí)A掃描或稱波形圖(可選)
• dB柵格(Panametrics MG2-DL型)
厚度顯示分辨率:低:0.1 mm標(biāo)準(zhǔn):0.01 mm
測(cè)量速率:標(biāo)準(zhǔn):每秒鐘4次測(cè)量。快速:每秒鐘20次測(cè)量。
小值/值模式:在每秒鐘20次測(cè)量的速率下,測(cè)量和回放小或厚度值。
凍結(jié)模式:凍結(jié)圖像,以瞬時(shí)捕獲關(guān)鍵厚度值。小化探頭的耦合提離誤差,易于高溫測(cè)量。
自動(dòng)探頭識(shí)別:自動(dòng)識(shí)別列表中的Panametrics® 探頭類型。調(diào)整內(nèi)部參數(shù),并校正V形聲程誤差。
位補(bǔ)償:補(bǔ)償探頭溫度和位偏移。顯示保持/空白模式:保持或清除測(cè)量后的顯示視圖。
場(chǎng)致發(fā)光背光顯示:可選“開啟”或者“自動(dòng)開啟”。
接收器帶寬:1 MHz~18 MHz(–3 dB)
公制/美制單位模式:毫米或者英寸。
顯示語(yǔ)言:英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、意大利語(yǔ)及其它自定義語(yǔ)言。
電源供應(yīng)
電池:3節(jié)AA堿性電池。
工作時(shí)間:電池供電時(shí)間一般為150小時(shí);如使用背光,可連續(xù)供電30 個(gè)小時(shí)。
低電量顯示器:持續(xù)顯示電池的電量狀態(tài)。
省電模式:自動(dòng)電源關(guān)閉/持續(xù)開啟。
一般規(guī)格
合IP65標(biāo)準(zhǔn):濺、撞擊機(jī)殼。密封、以顏分功能的鍵盤,帶觸感及聲音反饋。
危險(xiǎn)區(qū)域操作:可在美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810E,方法511.3,程序1所規(guī)定的環(huán)境中操作。
工作溫度范圍:
–10 °C~50 °C
外型尺寸(寬 x 高 x 厚):84.0 mm x 152.4 mm x 39.6 mm
重量:340 g
MG2-XT與MG2-DL的技術(shù)規(guī)格
Olympus® THRU-T®(穿透鍍層)測(cè)量:
利用單個(gè)底面回波(使用D7906-SM和D7908探頭),測(cè)量鍍層厚度和金屬的實(shí)際厚度。
穿透漆層回波到回波:利用多重底面回波,不計(jì)涂層厚度,顯示金屬的真實(shí)厚度值。
• 自動(dòng)回波到回波
• 手動(dòng)回波到回波(適用于實(shí)時(shí)A掃描模式),可進(jìn)行:
-- 增益調(diào)整
-- 鄰區(qū)抑制
-- 回波抑制
增益調(diào)整:
• 為增益調(diào)整預(yù)設(shè)高、低或標(biāo)準(zhǔn)增量。
• 手動(dòng)增益調(diào)整的增量可被設(shè)為1 dB(適用于實(shí)時(shí)A掃描模式)。
鄰區(qū)抑制:可抑制由于材料表面粗糙或不規(guī)則而造成的噪聲回波(適用于A掃描模式)。
自動(dòng)靈敏度增益優(yōu)化:可根據(jù)厚度和材料的噪聲水平,自動(dòng)或降低正常測(cè)量的靈敏度。
報(bào)警模式:可編程的高/低設(shè)置點(diǎn),帶視聽指示器。
差值模式:顯示實(shí)際厚度測(cè)量值與自定義參考值之間的差值。
帶有波形調(diào)節(jié)的實(shí)時(shí)A掃描:用戶使用可選的實(shí)時(shí)A掃描模式功能,可以直接在儀器的視圖中查看聲波形(或A掃描)。該模式包括以
下功能:手動(dòng)增益調(diào)整、鄰區(qū)抑制、回波抑制、延遲。
PANAMETRICS MG2-DL內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
數(shù)據(jù)記錄器:Panameterics® MG2-DL型儀器通過U端口,可以識(shí)別、存儲(chǔ)、回放、清除及傳輸厚度測(cè)量讀數(shù)和儀器的配置信息。
存儲(chǔ)量:可存儲(chǔ)多達(dá)31000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù),或1300個(gè)帶有厚度測(cè)量的波形(帶有波形選項(xiàng))。
存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)文件:每個(gè)被存儲(chǔ)的厚度讀數(shù),連同測(cè)量狀態(tài)標(biāo)記及可識(shí)別聲速、探頭等參數(shù)的設(shè)置編碼,都被歸檔。
文件名長(zhǎng)度:8位字母數(shù)字字。
標(biāo)識(shí)碼:10位字母數(shù)字標(biāo)識(shí)碼系統(tǒng),可識(shí)別或定位所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。
文件模版:增量型、順序型、2維柵格、Boiler及PC中的自定義文件模版。
標(biāo)準(zhǔn)配置
MG2型數(shù)字聲測(cè)厚儀、手腕帶、測(cè)試棒、耦合劑、用戶手冊(cè)、塑料攜帶箱(指Panametrics MG2-XT型和Panametrics MG2-DL型儀器)、2年有限。標(biāo)準(zhǔn)配置還包括一個(gè)雙晶探頭。
選購(gòu)附件
2214E: 5階梯試塊,美制單位。
2214M:5階梯試塊,公制單位。
MG/EW:延長(zhǎng)。
MG2/RPC:橡膠保護(hù)套。
GageView:用于Panametrics MG2-DL的PC機(jī)接口程序。
MG2/XTRETRO:將Panametrics MG2型轉(zhuǎn)換為Panametrics MG2-XT型的轉(zhuǎn)換器。
MG2XT/DLRETRO:將Panametrics MG2-XT轉(zhuǎn)換Panametrics MG2-DL型的轉(zhuǎn)換器。
MG2/DLRETRO:將Panametrics MG2型轉(zhuǎn)換為Panametrics MG2-DL型的轉(zhuǎn)換器。
MG2/WF:帶有波形調(diào)節(jié)的實(shí)時(shí)A掃描用于Panametrics MG2-XT型與PanametricsMG2-DL型儀器(不適用于
Panametrics MG2型儀器)。
U/ADP-115:AC-115電源供應(yīng)
U/ADP-230:AC-230電源供應(yīng)
欲查詢其它有關(guān)支架、連接桿及耦合劑的信息,請(qǐng)與我聯(lián)系。



