TF-5000型X射線熒光光譜儀

產(chǎn)品介紹

    該儀器廣泛應(yīng)用于冶金、石油、煤炭、化工、水泥、、、電子材料、大專院校、研究機構(gòu)等，是對物質(zhì)元素進行定性、定量分析的裝置。

    探測器采用世界的SDD探測器，可分析樣品包括：液體、薄膜、顆粒、生物體液、組織標本、顏料、墨水、油漆、半導(dǎo)體材料等。上罩式設(shè)計省去了傳統(tǒng)保護膜，避免樣品污染光管和探測器鈹窗，X射線屏蔽設(shè)計，讓測試人員。

標準配置                                        

    ◆SDD探測器            ◆高低壓電源       

    ◆智能軟件        ◆信號檢測電子電路  

    ◆開放式樣品平臺    ◆X光管

    ◆計算機及噴墨打印機

技術(shù)參數(shù)                                         

    ◆工作電壓：AC  110V/220V

    ◆相對濕度：≤70%

    ◆工作溫度：10℃～35℃    

    ◆元素分析范圍：P-U

    ◆分析范圍：5ppm～99.99%  

    ◆功能范圍：元素分析

    ◆測量對象：固體或液體    

    ◆測量時間：（60～100）S

    ◆檢測限：檢出限15ppm（充氦氣可達2.5ppm）

    ◆分析：＜100ppm其可控制在±15%

                ≥100ppm其可控制在±10%

  TF-5500型X射線衍射/熒光光譜儀

產(chǎn)品介紹                                        

TF-5500型X射線衍射/全反射熒光光譜儀是我公司新研制的新一代多功能分析儀器，它既可以進行X射線衍射，又可以進行全反射熒光光譜分析，可分析樣品包括：液體、薄膜、顆粒、生物體液、組織標本、顏料、墨水、油漆、半導(dǎo)體材料等。

可分析元素：原子序數(shù)11-92.，即Na-U。

產(chǎn)品特點                                        

    ◆全反射熒光分析同時可進行普通XRF45度入射分析；

    ◆無記憶效應(yīng)，無基體效應(yīng)，抑制來自襯底的信號，適合薄膜樣品、粉末樣品、液 態(tài)樣品的分析測試；

    ◆定量分析較普通XRF簡單；多元素痕量分析（ppb-數(shù)量級），動態(tài)范圍從分之一到一 ；

    ◆非破壞性分析，樣品不需預(yù)處理；

    ◆無需液氮冷卻，運行成本低；

    ◆一機多用，既可分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)，又可以分析樣品的成分與雜質(zhì)含量，還可以進行小角XRD衍射，大大降低設(shè)備成本。