全數(shù)字多通道超聲波探傷儀

EDT-89H性能特點(diǎn)

操作界面：采用人機(jī)對(duì)話（全中文）方式，使用功能顯示窗，進(jìn)行菜單式操作，使之現(xiàn)代化，實(shí)用化。

工藝選擇：開(kāi)機(jī)進(jìn)入儀器測(cè)試狀態(tài)，按參數(shù)鍵，進(jìn)行工藝選擇，選擇當(dāng)前所使用的工藝，顯示屏左下角將顯示使用工藝的簡(jiǎn)圖，且儀器進(jìn)入該工藝測(cè)試狀態(tài)，探傷即可開(kāi)始。

探傷工藝：以軟件形式把探傷工藝固化在儀器中，探傷時(shí)，儀器自動(dòng)調(diào)出使用。

探傷智能：操作者只需將探頭接好，按工藝鍵進(jìn)行工藝選擇，即可由儀器自動(dòng)調(diào)出相對(duì)應(yīng)的探傷工藝進(jìn)行探傷，不必對(duì)照工藝調(diào)節(jié)儀器各參數(shù)，因此儀器具有較強(qiáng)的探傷智能。

距離補(bǔ)償：對(duì)遠(yuǎn)距離探傷靈敏度進(jìn)行實(shí)時(shí)補(bǔ)償，提高遠(yuǎn)聲程波形高度。

射頻擴(kuò)展：對(duì)閘門內(nèi)的回波以射頻方式擴(kuò)展顯示出來(lái)。 

工藝校準(zhǔn)：對(duì)聲速、入射零點(diǎn)、折射角度、探頭前沿、距離波幅曲線等參數(shù)作校準(zhǔn)測(cè)量和設(shè)置。

峰值搜索：能保留閘門內(nèi)掃查到的傷波。

峰值包絡(luò)：能保留回波峰值運(yùn)動(dòng)軌跡。

平均降噪：采用數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，能將回波多次疊加，降低隨機(jī)噪聲。 

檢波方式：正半波、負(fù)半波、全波檢波及射頻回波。

存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)和回放1000幅以上數(shù)據(jù)波形圖像。

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：具有探傷工藝和項(xiàng)目文件、裂損三類數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、回放功能。 

EL顯示：采用能滿足寬溫，抗振，寬視角，高亮度，高對(duì)比度的電致發(fā)光平板顯示器，快速響應(yīng)，實(shí)時(shí)、清晰、穩(wěn)定地顯示波形、菜單或定位數(shù)值，且無(wú)需背光，內(nèi)外場(chǎng)使用均具有良好的可視度。

數(shù)據(jù)通信：可通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)LPT雙向通訊接口與計(jì)算機(jī)通信，進(jìn)行波形，圖表，文件的相互傳輸，實(shí)現(xiàn)探傷結(jié)果的計(jì)算機(jī)管理。 

便攜實(shí)用：交直流一體電源，儀器能在電池電源供電下連續(xù)工作6小時(shí)以上，且體積小，重量輕，功耗低，小型輕便，適合外場(chǎng)探傷使用。

EDT-89H技術(shù)參數(shù)

工作方式：?jiǎn)尉絺?、雙晶探傷

掃描范圍：零界面入射～ 4500mm鋼縱波

采樣頻率/位數(shù)：100MHz/8bits

檢波方式：全檢波

工作頻率：2MHz ～ 7.5MHz

平均電噪聲電平：≤ 15%（滿刻度）

增益調(diào)節(jié)：119.5dB（0.5dB步進(jìn)，自動(dòng)調(diào)節(jié)）

聲速范圍：（1000 ～ 9999）m/s

動(dòng)態(tài)范圍：≥ 28dB

垂直線性誤差：≤ 4%

水平線性誤差：≤ 1%

分辨力：＞28dB

靈敏度余量：≥65dB（深200mmΦ2平底孔）

數(shù)字抑制：（0 ～ 80）%，不影響線性與增益

電源、電壓：直流（DC）11V±10%；交流（AC）220V±10%

工作時(shí)間：連續(xù)工作5小時(shí)以上（鋰電池供電）

環(huán)境溫度：（-10 ～ 40）℃（參考值）

相對(duì)濕度：（20 ～ 95）% RH

外型尺寸：300 x 265 x 125（mm）