芯片高低溫變溫測(cè)試臺(tái)是一款針對(duì)芯片、光器件變溫性能測(cè)試的多功能測(cè)試平臺(tái),XYZ軸可任意調(diào)節(jié),XY軸調(diào)節(jié)范圍0-250mm,軸調(diào)節(jié)范圍0-200mm,控溫精度±0.01℃,控溫范圍-50℃-120℃(非標(biāo)可定制),觸摸屏控制,友好的人機(jī)界面,RS232、RS484遠(yuǎn)程控制接口,無(wú)噪聲、無(wú)振動(dòng),升降速率可調(diào)。組成部分:半導(dǎo)體冷熱臺(tái)、高精度半導(dǎo)體溫度控制器、溫控軟件、水循環(huán)系統(tǒng)(選配)。樣品臺(tái)尺寸 可根據(jù)實(shí)際要求定制。常規(guī)尺寸:從 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形狀:圓形,方形等可根據(jù)實(shí)際需要定制。



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