傳統(tǒng)的橢偏儀作為一個強(qiáng)大的薄膜表征技術(shù)已經(jīng)有超過100年的歷史。而應(yīng)用成像橢偏儀可以將被研究對象的尺寸下調(diào)到微米范圍，此技術(shù)可以應(yīng)用于微結(jié)構(gòu)樣品測試。例如，當(dāng)今信息存儲設(shè)備（如各種硬盤）的讀寫頭-懸臂梁探針微傳感器表面的反應(yīng)涂層就可以用成像橢偏儀進(jìn)行表征。而由于傳統(tǒng)的橢偏儀光斑直徑很大不能用以該類測試。 同時，基于橢偏測試數(shù)據(jù)成像橢圓偏振技術(shù)可以繪制空間分辨率達(dá)到一個微米左右的三維圖像，而且在這個過程中可以同時保留傳統(tǒng)橢圓偏振技術(shù)亞納米膜厚分辨率的優(yōu)點。利用成像橢偏儀Nanofilm_EP3SW您可以分析表征各種超薄膜，并且繪制三維立體圖形：如各種支撐膜，自組裝單分子膜和LB膜。甚至可以進(jìn)行液相表面和無機(jī)膜分析：如硅基片上的二氧化硅薄膜。 產(chǎn)品特點 三合一技術(shù)：集成像橢偏儀；布魯斯特角顯微鏡和成像表面等離子體共振儀（SPR）于一體 實時橢偏對比顯微圖像讓您對您的樣品直接觀察—測試時能真正實時地“看”到您做的東西。 橢偏領(lǐng)域內(nèi)的橫向分辨率讓您研究橫向尺寸小到一個微米的微結(jié)構(gòu)表面。 交互式和易于使用的光學(xué)模塊 液體表面薄膜成像 使微結(jié)構(gòu)薄膜和非均質(zhì)薄膜的研究也能利用橢圓偏振技術(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配置 PCSA布局（起偏器Polarizer-補償器Compensator-樣品Sample-分析器Analyser）--消光橢圓偏振技術(shù) （658nm, 20mW）固態(tài)激光光源—其他激光源可選 768x572像素CCD 10倍物鏡 機(jī)動測角儀 手動樣品臺 EP3測試軟件，EP4模擬-擬合軟件 應(yīng)用領(lǐng)域 微納米試樣：金箔上的硫醇薄膜；鋁箔上的SiO2薄膜 微結(jié)構(gòu)薄膜：微結(jié)構(gòu)支撐磷脂薄膜和混合雙層膜的橫向相分離（磷脂/糖脂） 透明基片：水面LB薄膜，玻璃上蛋白質(zhì)芯片 微芯片：生物芯片質(zhì)量控制；生物分子反應(yīng)；吸收動力學(xué)反應(yīng)；多通道測量 升級 Nanofilm_EP3SE：升級到光譜型成像橢圓偏振儀 升級到成像表面等離子共振譜儀（SPR） 原子力顯微鏡/原子探針（AFM）聯(lián)用 推薦附件 自動樣品臺 激光安全柜 固/液附件和表面等離子共振譜儀附件 溫度控制附件 液體控制附件 2倍，5倍，20倍，50倍物鏡 光斑切割元件 光斑放大/擴(kuò)束元件 EP3測試附加軟件 LB槽，Z向高度控制部件 主動減震系統(tǒng)
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