產(chǎn)品
　　HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋?、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、傷的體電阻率測(cè)試。
　　
　　無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
　　■測(cè)試范圍廣，低阻可測(cè)至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm，高阻可測(cè)至100ohm.cm
　　■產(chǎn)品體積小，便于移動(dòng)和攜帶
　　■采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率
　　■無(wú)接觸、傷快速測(cè)試
　　■測(cè)試前無(wú)需表面處理
　　■對(duì)于多晶，能夠避免晶界對(duì)測(cè)試的影響
　　■測(cè)試范圍：0.001-100 ohm.cm（分段測(cè)試）
　　■可選加無(wú)接觸PN型號(hào)測(cè)試功能
　　■可進(jìn)行溫度和厚度的修正
　　
　　無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-技術(shù)指標(biāo)
　　■硅棒硅塊可測(cè)量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm
　　■小測(cè)試厚度：200μm
　　■測(cè)量時(shí)間：2秒/次
　　■小測(cè)試面積：30x30 mm
　　■推薦使用溫度：20℃
　　■濕度：≤80%
　　■氣壓：86-106kPa
　　■使用電壓：230&plun;10V
　　■頻率，50&plun;3Hz
　　■功率消耗：≤5W
　　■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm